2019年5月25日至6月2日，NOM研究组一行5位老师与6位同学赴西班牙巴塞罗那参加了第八届国际光谱椭偏大会。会议主题涵盖了各向异性材料表征、椭偏仪器研制、光学建模与仿真、纳米材料与超结构等17个主题，云集了当今椭偏基础理论研究、椭偏科学及工业化应用、椭偏测试分析等领域的众多专家学者，为从事光谱椭偏的仪器研制、科学与应用和相关技术研究的科学家与工程师提供了一个极好的交流论坛。

会上，陈修国副教授受邀做了题为“Tomographic Mueller-matrix scatterometry for nanostructure metrology”的邀请报告，介绍了课题组自制的层析穆勒矩阵散射仪及其在纳米结构上的测量应用。此外，刘世元教授做了“Layer-dependnet dielectric functions of emerging 2D materials revealed by spectroscopic ellipsometry”的口头报告，江浩副教授做了“Dynamic response metrology based on ultrafast ellipsometry”的口头报告，王勐博士后做了“Magnetic-field tuning of plasmonic effects through Mueller Matrix spectroscopic ellipsometry”的口头报告，赵雪楠博士生做了“Efficiency optimization of tandem organic solar cells under oblique incidence based on optical analysis method”的口头报告，宋宝坤博士生做了“Study on the optical properties of Cs₂AgBiX₆(X=Cl, Br) double perovskite by spectroscopic ellipsometry”的口头报告，张松博士生做了“Dynamic characteristics of liquid crystal variable retarders investigated using high-speed polarimetry”的口头报告，分别从仪器搭建、测量应用等方面介绍了课题组的相关研究成果。博士生刘佳敏、陈超也以墙报报告的形式展示了自己近期的研究工作。这些研究工作均引起了与会者的广泛关注与兴趣。

陈修国副教授

刘世元教授

江浩副教授

王勐博士后

赵雪楠博士

宋宝坤博士

张松博士

博士刘佳敏、陈超

在会期间，NOM组成员与来自许多国家的国际参会者相互交流各自最新的成果，并一同认识了一些学术同僚，为进一步沟通打下基础。