功能介绍

主要用于纳米制造、纳米材料学、纳米生物学等领域内各种功能材料和体材料的光学性质以及结构特性分析。包括各种信息光电子材料和期间的光学常数分析，测量对象包括金属、半导体、超导体、绝缘体、非晶体、磁性材料、电光材料、非线性材料、各项同性和各向异性材料等。还能对薄膜材料的表面、截面特性、厚度以及粗糙度进行分析。并借助光学常数、对各种功能材料的组分和结构进行表征、测量和分析。

主要技术参数

1) 能一次性测试完整穆勒矩阵4*4的16个矩阵元素

2) 光谱范围193-1690nm

3) 探测光束入射角变化范围45-90°

4) 微光斑直径：200μm

5) 单点探测时间为1-15s

6) 重复测量误差：<0.002nm

大仪预约平台网站为：http://ilab-mse.hust.edu.cn/