2010年6月17日至23日，NOM研究组刘世元教授与武汉光电国家实验室（筹）微纳制造研究部汤自荣副教授应香港城市大学陈忍昌(Y. C. Chan)教授和张开黎(Kaili Zhang)博士的邀请，赴港对该校进行了为期一周的学术访问与交流。

访问期间，刘世元教授和汤自荣副教授详细介绍了微纳制造研究部在微纳制造与测量领域的最新研究进展，陈忍昌教授和张开黎博士则介绍了香港城市大学在电子封装及可靠性方面取得的一系列重要成果。通过友好洽谈，双方就交流议题达成了进一步合作意向，将在微纳制造、MEM/NEMS可靠性、封装及微纳测试等领域开展实质性的合作研究，包括联合培养博士生、共同申请相关课题等。陈教授还欣然接受了刘世元教授的邀请，将于9月份回访华中科技大学和武汉光电国家实验室（筹）。

陈忍昌教授早年就读于英国伦敦大学帝国理工学院，于1983年获得该校电机工程学博士学位。1991年加入香港城市理工学院（现为香港城市大学）电子工程学系，现为该系电子工程讲席教授(Chair Professor)及电子封装及组装暨失效分析及可靠性工程中心(EPA Centre)主任，研究兴趣包括先进电子封装及组装技术、失效分析及可靠性工程，在电子产品可靠性研究方面成就卓越。陈教授现为IEEE Fellow和IEE Fellow，曾被委任为IEE行政会议成员并于1995/96年间担任主席一职，是香港电子封装与制造业商会创会(2001)主席及现任荣誉主席。此外，他还是现任香港工程师学会(HKIE)的考核及教育委员会成员，负责电子工程领域。在国际上，陈教授亦是多个国际学术会议的主席，这些会议涉及范畴主要包括电子产品的可靠性及绿色电子。

香港城市大学EPA Centre网站链接：http://www.ee.cityu.edu.hk/~epa

陈忍昌教授个人主页：http://www.ee.cityu.edu.hk/~ycchan