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学术交流 | NOM组成员赴日本新潟参加第14届国际测量技术与智能仪器研讨会

作者:时间:2019-09-12阅读量:
  

2019年8月31日至9月5日,NOM研究组的刘世元教授、陈修国副教授、谷洪刚博士后与博士生王才赴日本新潟参加了第14届国际测量技术与智能仪器研讨会(ISMTII2019)。该会议是继2017年于中国西安举办的第13届国际会议后的又一次国际盛会。本次会议主题涵盖了尺寸测量、生物测量、在线与原位测量、微纳测量等18个主题,与NOM组目前从事的光学微纳测量理论与仪器方法研究方向具有高度的相关性,云集了当今光学精密测量研究、生物应用表征及测量仪器等领域的众多专家学者,为从事光学测量的仪器研制、科学与应用和相关技术研究的科学家与工程师提供了一个极好的交流论坛。

会上,博士生王才做了题为“Numerical simulation of the image formation and the spatially resolved Mueller matrix of non-periodic objects based on a high-numerical-aperture Mueller-matrix ellipsometer”的口头报告,介绍了自己在光学仪器的成像理论建模与仿真方面的研究工作,谷洪刚博士后以墙报报告的形式展示了自己近期的研究工作。这些研究工作均引起了与会者的广泛关注与兴趣。


在会期间,NOM组成员与来自许多国家的国际参会者相互交流各自最新的成果,并一同认识了一些学术同僚,为进一步沟通打下基础。

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