4月15日至19日,NOM研究组成员在刘世元教授的带领下,参加在瑞士日内瓦举行的第43届国际发明展览会,参展项目“高精度宽光谱穆勒矩阵椭偏仪及纳米结构无损测量方法”荣获发明金奖!
近年来,在刘世元教授领导下,NOM研究组成功研制出国内第一台高精度宽光谱穆勒矩阵椭偏仪,可一次性测量4x4阶全穆勒矩阵元素。据中国计量科学研究院出具的测试报告显示,仪器综合性能指标达到国际先进水平。配以相应的一系列测量理论与方法,实现了纳米结构的快速、无损、准确测量,将在纳米科学基础研究、纳米制造工业应用等方面获得广阔应用。